기기명	X선 회절 분석기
영문명	XRD(X-Ray Diffraction)
분류	나노소재 측정분석장비
장비상태	정상 ○
기기모델	D2 PHASER
설치장소	연구원본관 측정분석실
제조회사	Bruker
구입일자	2011-12-06
장비담당	전화 : 033-452-9712
장비상세정보
장비사양	-Max.useable angular range : -3~160˚2Theta -Accuracy : ±0.02˚throughout the entire measuring range -Achievable peak width : <0.05˚ -Alignment Not needed, factory aligned -X-ray wavelenths Cu, standard ceramic sealed tube -X-ray generation : 30kV/10mA -Power supply : 90-250V
장비활용	- 시료의 X선 원소분석, X선 회절 분석, 결정구조, 결정립 크기, 면간격, 박막 두께, 배향된 방향분석 - 증착 film에 대한 구조특성 측정 및 해석 - 디스플레이/반도체 소자의 X-선 회절에 의한 소자내의 고유 결정상 측정분석

X선 회절 분석기
영문명: XRD(X-Ray Diffraction)
기기분류: 나노소재 측정분석장비
장비상태: 정상 ○
기기모델: D2 PHASER
설치장소: 연구원본관 측정분석실
제조회사: Bruker
구입일자: 2011-12-06
장비담당: , 033-452-9712
장비상세정보
장비사양: -Max.useable angular range : -3~160˚2Theta -Accuracy : ±0.02˚throughout the entire measuring range -Achievable peak width : <0.05˚ -Alignment Not needed, factory aligned -X-ray wavelenths Cu, standard ceramic sealed tube -X-ray generation : 30kV/10mA -Power supply : 90-250V
장비활용: - 시료의 X선 원소분석, X선 회절 분석, 결정구조, 결정립 크기, 면간격, 박막 두께, 배향된 방향분석 - 증착 film에 대한 구조특성 측정 및 해석 - 디스플레이/반도체 소자의 X-선 회절에 의한 소자내의 고유 결정상 측정분석