기기명 | 열전도율 분석기 | |
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영문명 | Thermal Conductivity Instrument | |
분류 | 나노소재 측정분석장비 | |
장비상태 | 정상 ○ | |
기기모델 | LFA 447 | |
설치장소 | 연구원본관 측정분석실 | |
제조회사 | Netzsch | |
구입일자 | 2012-07-17 | |
장비담당 | 전화 : 033-452-9712 |
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장비상세정보 | ||
장비사양 | 1. Temp. range : ambient to 300°C 2. Alignment : vertical set-up with rectanguar design heater and holder 3. Integrated sample changer : measure up to four samples in one test 4. Diffusivity measuring range : 0.01 to 1000 mm2/s 5. Conductivity measuring range : 0.01 to 2000 W/mK 6. Thermal diffusivity repeatability : +/- 3% or better (for most sample) 7. Specific repeatability : +/-5% or better (for most sample) 8. Minimum sample thickness : 0.02 mm or thinner 9. IR Source : Xenon Flash Lamp 11. Wavelength : 150 … 2000 nm 12. IR detector speed : 1 MHz 13. Pulse energy : up to 10 Joules 15. Data acquisition speed : 500kHz 16. Device for detecting thermal conductivity by means of optical pulses 17. Finite pulse width correction 18. Simultaneous finite pulse heat loss correction 19. Simultaneous finite pulse length correction 20. heat loss and laser power corrected specific heat calibration 21. In-Plane sample holder and software 22. Number of samples… |
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장비활용 | 다양한 전기 전자부품 및 기판, 에너지, 기계 및 자동차 관련 부품 등에서 사용하는 고분자, 금속, 세라믹 및 기타 복합재료의 열확산율, 비열 및 열전도율 등 1) 전자부품(콘덴서, IC 전기전자부품, 전자기판, 전자기판 접착제)의 열확산율 측정 2) 에너지, 기계, 자동차 관련 부품 등의 열확산율 측정 |
열전도율 분석기 |
영문명: Thermal Conductivity Instrument |
기기분류: 나노소재 측정분석장비 |
장비상태: 정상 ○ |
기기모델: LFA 447 |
설치장소: 연구원본관 측정분석실 |
제조회사: Netzsch |
구입일자: 2012-07-17 |
장비담당: , 033-452-9712 |
장비상세정보 |
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장비사양: 1. Temp. range : ambient to 300°C 2. Alignment : vertical set-up with rectanguar design heater and holder 3. Integrated sample changer : measure up to four samples in one test 4. Diffusivity measuring range : 0.01 to 1000 mm2/s 5. Conductivity measuring range : 0.01 to 2000 W/mK 6. Thermal diffusivity repeatability : +/- 3% or better (for most sample) 7. Specific repeatability : +/-5% or better (for most sample) 8. Minimum sample thickness : 0.02 mm or thinner 9. IR Source : Xenon Flash Lamp 11. Wavelength : 150 … 2000 nm 12. IR detector speed : 1 MHz 13. Pulse energy : up to 10 Joules 15. Data acquisition speed : 500kHz 16. Device for detecting thermal conductivity by means of optical pulses 17. Finite pulse width correction 18. Simultaneous finite pulse heat loss correction 19. Simultaneous finite pulse length correction 20. heat loss and laser power corrected specific heat calibration 21. In-Plane sample holder and software 22. Number of samples… |
장비활용: 다양한 전기 전자부품 및 기판, 에너지, 기계 및 자동차 관련 부품 등에서 사용하는 고분자, 금속, 세라믹 및 기타 복합재료의 열확산율, 비열 및 열전도율 등 1) 전자부품(콘덴서, IC 전기전자부품, 전자기판, 전자기판 접착제)의 열확산율 측정 2) 에너지, 기계, 자동차 관련 부품 등의 열확산율 측정 |